Caractérisation de l'interface GaAlSb / OXYDE (SiO , MgO, Al O )
Éditeur: Editions Universitaires Européennes
201776 pagesISBN 9786202267045
Format: BrochéLangue : Français
Ce livre présente une large étude sur les propriétés électriques des couches minces d'oxydes : SiO , Al O , MgO et de leurs alliages binaires déposés sur les antimoniures : GaSb dégénéré et Ga0, 96Al0, 04Sb. Les oxydes sont fabriqués par coévaporation thermique réactive au canon à électron...
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