12e congrès international de métrologie, Lyon, 20-23 juin 2005

Éditeur: CETIM
200623 pagesISBN 9782854007312
Format: BrochéLangue : Français
Le Congrès international de métrologie est organisé tous les deux ans par le
collège français de métrologie.
L'objectif est de faire le point sur les techniques d'étalonnage et de mesure originales,
développées ou en cours de développement, et de présenter les évolutions de
la fonction «métrologie» et ses implications dans l'industrie, l'environnement,
l'économie et la qualité, au niveau national et international.
Ce document propose une synthèse mettant en avant les informations techniques
des conférences les plus pertinentes.
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