Ce livre marque la commémoration du centenaire de l' Échelle

métrique de l'intelligence Binet-Simon qui a eu lieu le samedi 5 juin 2004

dans l'amphithéâtre Durkheim à la Sorbonne. Les textes rassemblés ici

conservent la trace écrite de la série de conférences donnée à cette

occasion par G. Avanzini, S. Nicolas, M. Huteau, J. Lautrey, D. Faber, M.

Zarrouati, O. Martin et B. Andrieu. On trouve dans ce livre toute une série

de chapitres sur l'histoire du test Binet-Simon et sur l'évolution des tests

métriques de l'intelligence jusqu'à aujourd'hui.

Il y a maintenant un siècle que le premier test d'intelligence a été

élaboré par Alfred Binet (1857-1911), le psychologue français le plus

connu dans le monde. L'élaboration de la première version de l'échelle

métrique de l'intelligence sera réalisée au cours de l'année 1904-1905 dans

le contexte de l'évolution des pratiques pédagogiques de l'époque. En

octobre 1904, une commission ministérielle sera créée autour de la

question de la scolarisation des enfants arriérés. Binet, qui fait partie de

cette commission, imposera l'idée d'un examen psychologique afin de

déterminer l'admission des enfants anormaux dans une école spéciale.

C'est dans ce contexte qu'il élabore avec l'aide de son collaborateur

Théodore Simon (1873-1961) un test destiné à établir un diagnostic

scientifique des états inférieurs de l'intelligence. C'est par le détour du

diagnostic de la débilité mentale que la question de la mesure de

l'intelligence va ainsi être formulée et résolue.

Ce livre s'adresse aux psychologues, aux pédagogues, et aux

historiens spécialistes ou simplement curieux de l'approche scientifique de

l'intelligence et plus particulièrement des idées de Binet sur la question.