Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. Vol. 2. Systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste

Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. Vol. 2. Systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste

Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. Vol. 2. Systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste
Éditeur: Iste éditions
2021232 pagesISBN 9781784057947
Format: BrochéLangue : Français

Présentation des connaissances de base pour les applications industrielles dans le domaine de l'ingénierie quantique et des nanotechnologies. Les auteurs étudient les systèmes optiques pour la mesure à l'échelle nanométrique et les modèles quantiques décrivant l'interaction d'un système à deux niveaux dans son environnement.

Ce livre est proposé par (0) membre(s)
Ce livre est mis en favori par (0) membre(s)