Analyse des images en métrologie optique par ondelettes

Éditeur: Editions Universitaires Européennes
2018120 pagesISBN 9783841788009
Format: BrochéLangue : Français
Les contraintes industrielles de réalisation de plus en plus sévères nécessitent fréquemment des techniques de mesure et de contrôle. Les méthodes de métrologie optique permettent le contrôle non destructif d'une grande variété de paramètres (déformations, déplacements...), avec une très haute précision...
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