Revue STI : numéro spécial sur les enquêtes gouvernementales sur la prospective technologique n° 17

Revue STI : numéro spécial sur les enquêtes gouvernementales sur la prospective technologique n° 17

Revue STI : numéro spécial sur les enquêtes gouvernementales sur la prospective technologique n° 17
Éditeur: OCDE
1996216 pagesISBN 9789264247185
Format: BrochéLangue : Français

Pourquoi les gouvernements entreprennent-ils des enquêtes de prospective technologique ? Quels enseignements peut-on tirer de ces enquêtes nationales ? Ce numéro spécial de la Revue STI aborde ces questions et examine les atouts et faiblesses des différentes méthodologies utilisées, entre autres la méthode Delphi, ainsi que le degré de fiabilité des résultats.

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