Travaux sur le transistor à ionisation par impact (I-MOS) : Etude, réalisation et caractérisation sur substrat Silicium et Germanium sur isolant (SOI, GeOI)

Éditeur: Editions Universitaires Européennes
2010196 pagesISBN 9786131501739
Format: PocheLangue : Français
Le transistor à ionisation par impact (I-MOS) est une nouvelle architecture présentant l'avantage de s'affranchir de la barrière des 60mV/dec à température ambiante, qui limite la pente sous le seuil de l'architecture MOSFET classique. Le I-MOS se présente comme une diode PiN dont la zone intrinsèque est partiellement recouverte par une grille...
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