La fiabilité des composants RF de puissance : Etude de la fiabilité des transistors RF LDMOS de puissance en mode pulsé pour des applications hype

Éditeur: Editions Universitaires Européennes
2012248 pagesISBN 9783841794963
Format: PocheLangue : Français
Les fortes exigences de fonctionnement ont augmenté la quantité de contraintes appliquées aux transistors qui constituent les modules de puissance dans les radars et ont un impact direct sur leurs temps de vie. Une connaissance approfondie de cet impact est nécessaire pour une meilleure estimation de la fiabilité des modules...
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