Caractérisation à l échelle nanométrique d interfaces métal/sioxny

Caractérisation à l échelle nanométrique d interfaces métal/sioxny

Caractérisation à l échelle nanométrique d interfaces métal/sioxny
2011192 pagesISBN 9786131502002
Format: BrochéLangue : Français

Les systèmes constitués d'interfaces métal/silicium ou métal/composés de silicium sont très utilisés dans de nombreux secteurs technologiques. Les propriétés de ces systèmes dépendent fortement des interactions entre les matériaux dans la zone de l'interface. Nous présentons les résultats de l'analyse par EXES et SIMS des interfaces Mo/Si, Mo/SiO2, Mo/Si3N4, NiTi/Si, NiTi/SiO2 et NiTi/Si3N4...

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