Les couches minces ou très minces (d'épaisseurs comprises entre

seulement quelques micromètres et quelques nanomètres) sont

omniprésentes dans notre environnement, que ce soit à l'état

naturel, dans les mondes du vivant et minéral, ou à l'état synthétique,

dans les objets manufacturés : membranes biologiques, couches

d'altération, revêtements de protection, films à propriétés conductrices

ou isolantes, couches colorées, membranes synthétiques, capteurs.

Leurs propriétés d'usage dépendent à la fois de leur composition

chimique globale et de leur microstructure. L'optimisation de ces

propriétés nécessite donc une caractérisation fine de la microstructure.

Cependant leur faible épaisseur rend particulièrement complexe

cette opération.

Cet ouvrage présente différentes techniques de caractérisation fondées

sur l'analyse des interactions entre la matière et un faisceau électromagnétique

ou neutronique. Il expose les bases théoriques et les

derniers développements des techniques ellipsométriques, de réflectométrie

(X, neutronique et optique) et de diffraction des rayons X.

Les auteurs des différents chapitres, spécialistes reconnus, proposent

des textes synthétiques assortis de références bibliographiques à

partir desquelles le lecteur pourra approfondir ses connaissances. Cet

ouvrage sera ainsi fort utile à tous les ingénieurs, chercheurs et

étudiants souhaitant s'initier ou se perfectionner aux techniques de

caractérisation de films minces.