Ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces

Ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces

Ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces
Éditeur: EDP sciences
1984533 pagesISBN 9782902731695
Format: BrochéLangue : Français

Ces méthodes présentent l'avantage d'être non destructives, de pouvoir être utilisées in situ avec des temps de réponse très courts et d'avoir une haute résolution spectrale.

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